Standard Svensk standard · SS-EN IEC 60749-37, utg 2:2023

Halvledarkomponenter - Mekaniska och klimatiska provningsmetoder - Del 37: Fallprovning av kretskort med accelerometer

Status: Gällande

Köp denna standard

Standard Svensk standard · SS-EN IEC 60749-37, utg 2:2023

Halvledarkomponenter - Mekaniska och klimatiska provningsmetoder - Del 37: Fallprovning av kretskort med accelerometer
Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan. Läs mer om SIS Abonnemang
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 382 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 382 SEK
standard ikon

Papper

Fler alternativ Färre alternativ

Ämnesområden

Allmänt Halvledarkomponenter (31.080.01)

Köp denna standard

Standard Svensk standard · SS-EN IEC 60749-37, utg 2:2023

Halvledarkomponenter - Mekaniska och klimatiska provningsmetoder - Del 37: Fallprovning av kretskort med accelerometer
Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan. Läs mer om SIS Abonnemang
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 382 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 382 SEK
standard ikon

Papper

Fler alternativ Färre alternativ

Produktinformation

Språk: Engelska

Framtagen av: SEK SVENSK ELSTANDARD

Internationell titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer

Artikelnummer: STD-80041349

Utgåva: 2

Fastställd: 2023-02-22

Antal sidor: 23

Parallell utgåva: SS-EN 60749-37