Standard Tekniska specifikationer · SIS-ISO/TS 25138:2011

Ytkemisk analys - Analys av metalloxidskikt med GD-OES (ISO/TS 25138:2010, IDT)

Status: Upphävd

· Ersätts av: SIS-ISO/TS 25138:2019
Köp denna standard

Standard Tekniska specifikationer · SIS-ISO/TS 25138:2011

Ytkemisk analys - Analys av metalloxidskikt med GD-OES (ISO/TS 25138:2010, IDT)
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 1 197 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 1 197 SEK
standard ikon

Papper

Pris: 1 915,20 SEK
standard ikon pdf + standard ikon

PDF + papper

Fler alternativ Färre alternativ
Omfattning
This Technical Specification describes a glow-discharge optical-emission spectrometric method for the determination of the thickness, mass per unit area and chemical composition of metal oxide films.

This method is applicable to oxide films 1 nm to 10 000 nm thick on metals. The metallic elements of the oxide can include one or more from Fe, Cr, Ni, Cu, Ti, Si, Mo, Zn, Mg, Mn and Al. Other elements that can be determined by the method are O, C, N, H, P and S.

Ämnesområden

Kemisk analys (71.040.40)


Köp denna standard

Standard Tekniska specifikationer · SIS-ISO/TS 25138:2011

Ytkemisk analys - Analys av metalloxidskikt med GD-OES (ISO/TS 25138:2010, IDT)
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 1 197 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 1 197 SEK
standard ikon

Papper

Pris: 1 915,20 SEK
standard ikon pdf + standard ikon

PDF + papper

Fler alternativ Färre alternativ

Produktinformation

Språk: Engelska

Framtagen av: Kemiska analysmetoder för metaller, SIS/TK 122

Internationell titel: Surface chemical analysis - Analysis of metal oxide films by glow discharge optical emission spectrometry (ISO/TS 25138:2010, IDT)

Artikelnummer: STD-76217

Utgåva: 1

Fastställd: 2011-01-03

Antal sidor: 48

Ersätts av: SIS-ISO/TS 25138:2019