Standard IEC standard · IEC 60749-19:2003/AMD1:2010

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength

Status: Gällande

Köp denna standard

Standard IEC standard · IEC 60749-19:2003/AMD1:2010

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 360 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 360 SEK
standard ikon

Papper

Fler alternativ Färre alternativ

Ämnesområden

Allmänt Halvledarkomponenter (31.080.01)


Köp denna standard

Standard IEC standard · IEC 60749-19:2003/AMD1:2010

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 360 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 360 SEK
standard ikon

Papper

Fler alternativ Färre alternativ

Produktinformation

Språk: Engelska Franska

Framtagen av: IEC

Internationell titel: Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength

Artikelnummer: STD-570755

Utgåva: 1

Fastställd: 2010-07-28

Antal sidor: 4

Tillägg till: IEC 60749-19:2003